2020年度学術論文

 
圧力センサアレイによる前腕部筋活動計測に基づいた手指動作時のピンチ力推定　[第59回日本生体医工学会大会、20200526、オンライン(岡山)、番号PO-2-075]
五十嵐達也、藤﨑和弘、笹川和彦、森脇健司


バルーン拡張時にモデル血管内壁に作用する接触圧力の計測:血管壁の弾性率の影響　[第59回日本生体工学会大会、20200527、オンライン(岡山)、番号PO-3-050]
森脇健司、藤﨑和弘、笹川和彦、岡本吉弘


薄型3軸応力センサの介護用ベッド使用時における皮膚への適用　[生体医工学シンポジウム2020、20200918、オンライン(弘前)]
工藤雄行、笹川和彦、藤﨑和弘、森脇健司


薄型圧力センサを利用した歩行時の筋活動計測　[生体医工学シンポジウム2020、20200918、オンライン(弘前)]
近藤絢音、工藤雄行、藤﨑和弘、佐藤厚子、笹川和彦


One-step fabrication and evaluation of scaffold-free skeletal muscle-like fiber tissues by using a novel cell self-aggregation technology with specifically designed culture chamber [生体医工学シンポジウム2020、20200919、オンライン(弘前)]
太田風輝、森脇健司、岩井良輔


介護用ベッド使用時の褥瘡好発部位における接触応力の計測　[第47回日本臨床バイオメカニクス学会、20201106、オンライン(新潟)]
工藤雄行、笹川和彦、藤﨑和弘、森脇健司


薄型三軸応力センサを利用した穿刺支援システムの開発　[第47回日本臨床バイオメカニクス学会、20201106、オンライン(新潟)]
瀬田雄元、笹川和彦、藤﨑和弘、森脇健司


運動時筋活動評価に利用可能な身体装着型押し込み反力計測システムの開発　[第47回日本臨床バイオメカニクス学会、20201106、オンライン(新潟)]
藤﨑和弘、近藤絢音、森脇健司、笹川和彦


有限要素解析によるフォーム構造モデルの変形特性評価　[2020年度精密工学会東北支部講演会、20201114、オンライン(弘前)]
長堀拓真、藤﨑和弘、笹川和彦、森脇健司


電圧印加により局所脱灰処理した牛大腿皮質骨の力学特性　[第31回バイオフロンティア講演会、20201212、オンライン、講演番号1B32、第31回バイオフロンティア講演会講演論文集]
長内慧多、藤﨑和弘、笹川和彦、森脇健司


フレキシブル基板上に印刷した導電性インク配線の高密度電流負荷試験　[日本機械学会東北学生会第51回学生員卒業研究発表講演会、20210309、オンライン(山形)]
大坪拓生、笹川和彦、森脇健司、藤﨑和弘


薄型フレキシブルセンサを用いた衣服着用による接触圧力・せん断応力の同時計測　[日本機械学会東北学生会第51回学生員卒業研究発表講演会、20210309、オンライン(山形)]
鎌田龍斗、笹川和彦、森脇健司、藤﨑和弘


酸化インジウムスズ電子配線の高密度電流下における損傷評価　[日本機械学会東北学生会第51回学生員卒業研究発表講演会、20210309、オンライン(山形)]
鈴木雄、森脇健司、笹川和彦、藤﨑和弘


電圧印加によりアパタイト形成した牛アキレス腱の力学特性評価　[日本機械学会東北学生会第51回学生員卒業研究発表講演会、20210309、オンライン(山形)]
田原蓮、藤﨑和弘、太田風輝、笹川和彦、森脇健司


屋外作業における身体負荷の長時間計測及び評価システムの開発　[日本機械学会東北学生会第51回学生員卒業研究発表講演会、20210309、オンライン(山形)]
大村昂也、藤﨑和弘、太田風輝、笹川和彦、森脇健司


Electromigration Damage of Flexible Electronic Lines Printed with Ag Nanoparticle Ink [Journal of Electronic Packaging, Vol.142(3), 031107.1-5]
Daiki Saito, Kazuhiko Sasagawa, Takeshi Moriwaki, Kazuhiro Fujisaki


Evaluation of Venipuncture Techniques based on Measurements of Haptic Sense and Finger Motion [Advanced Biomedical Engineering, Vol.9, PP.197-201]
Masato Sonoda, Kazuhiko Sasagawa, Kazuhiro Fujisaki, Takeshi Moriwaki, Hiroyuki Kayaba


Computation Evaluation of Optimal Reservoir and Sink Lengths for Threshold Current Density of Electromigration Damage Considering Void and Hillock Formation [Microelectronics Reliability, Vol.118, 114060.1-6]
Ryuji Takaya, Kazuhiko Sasagawa, Takeshi Moriwaki, Kazuhiro Fujisaki